大(dà)量程(chéng)幹法激光粒度(dù)分(fèn)析儀(yí)

lap-d2000幹法激光粒度(dù)儀

lap-d2000大量程(chéng)幹法激光粒度分析(xī)儀主要性(xìng)能特(tè)點：

*的(de)光路設計:

　　lap-d2000采用(yòng)會(huì)聚(jù)光傅立葉變(biàn)換測試技術(shù)保(bǎo)證在較短的焦距獲得(dé)較大(dà)量程(chéng)，有效(xiào)提高(gāo)儀器的分(fèn)辨能(néng)力；*的(de)小探(tàn)頭排(pái)布，讓d2000擁(yōng)有了*的小顆(kē)粒測試能力。*的自動(dòng)對中系統(tǒng)及電腦操作系(xì)統彰(zhāng)顯出lap-d2000人性化設計。

高(gāo)穩定(dìng)光路(lù)優化：

　　*的設計讓(ràng)lap-d2000擁有(yǒu)了*的(de)高穩定光路，它采(cǎi)用了高(gāo)穩定、長壽命的進口大功率光(guāng)纖輸出激光器(qì)，優良(liáng)的單色性(xìng)讓lap-d2000有了*的(de)穩定性(xìng)；主要(yào)光(guāng)路采(cǎi)取(qǔ)了全封(fēng)閉設計，保(bǎo)證了(le)儀器在複雜環(huán)境長時間測試(shì)；高密(mì)度(dù)旋轉式(shì)探頭分布保證了lap-d2000*的全量(liàng)程無(wú)縫測試；

*的(de)幹(gàn)法分散(sàn)系統：

　　lap-d2000分散(sàn)系統在(zài)法(fǎ)國理(lǐ)論數據(jù)的基礎(chǔ)上進行了優化設計，使lap-d2000對(duì)幹粉(fěn)的分散更(gèng)加均勻，*的負壓(yā)保證(zhèng)了進料的(de)連續(xù)性及(jí)均勻(yún)性(xìng)，有效(xiào)避(bì)免測試過(guò)程中幹(gàn)粉(fěn)的相互粘連。

大量程幹(gàn)法激光(guāng)粒度(dù)分析(xī)儀探測(cè)器：

　　lap-d2000探測器采用了主探測器與副探測器相結合的全(quán)新設計，保(bǎo)證(zhèng)了儀器(qì)全量(liàng)程内無縫探測(cè)，使測試更(gèng)加準确。主探(tàn)測器設(shè)計了自動對中(zhōng)系統(tǒng)，可實現儀(yí)器的(de)一(yī)鍵自動(dòng)對中，彰顯人性化設計(jì)。同(tóng)時有(yǒu)效避(bì)免手動對(duì)中對探測器的損害，有效延長(zhǎng)了儀器的使用(yòng)壽命。

防塵(chén)、防震設(shè)計(jì)：

　　儀器整體(tǐ)進行(háng)了密封(fēng)設計，大(dà)幅提(tí)高了内部元器件(jiàn)使用壽(shòu)命。*的(de)懸浮(fú)式結(jié)構能有效避免(miǎn)外界(jiè)震(zhèn)動對儀器的幹擾(rǎo)，使結(jié)果測試更穩定(dìng)可靠。

光路自(zì)動校對：

　　光路微(wēi)變，儀器可以自行對光路進行(háng)調節。

管(guǎn)道無(wú)殘留(liú)：

　　測試(shì)完成後管道内無殘(cán)留樣品，不會對下次測(cè)試造成(chéng)幹擾。

計算機控制喂料：

　　測試人員(yuán)可(kě)借助(zhù)計算(suàn)機控制儀器進(jìn)料量(liàng)。

主要技術參數：